晶圆测试探针卡电路板
- 探针卡电路板搭配测试机（ATE）与Prober对晶片上的每个晶粒进行针测，领智电路可以制作生产探针卡测试电路板 、半导体测试负载电路板、半导体老化测试电路板，提供快速样品/批量加工。...
- 咨询热线：0755-26395768
-
产品详情
产品名称：晶圆测试探针卡电路板
板材型号：TU-872
产品层数：24L电路板
成品板厚：5mm
成品铜厚：1oz
表面处理：镀金
最小孔径：0.1mm
最小线距：0.25mm
最小线宽：0.075mm
特殊工艺：阻抗，高多层，HDI
应用领域：晶圆测试
晶圆测试（Chip Probing）是半导体生产过程中必不可少的关键关节，探针卡（Probe Card）将数以万计的微米级探针集成到一块PCB板上，搭配测试机（ATE）与Prober对晶片上的每个晶粒进行针测，探针卡电路板通常作为Loadboard的物理接口，在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加到Loadboard上，从而判断芯片的良好程度。领智电路是一家提供高精密高TG电路板生产加工厂家，可以制作生产探针卡测试电路板 、半导体测试负载电路板、半导体老化测试电路板，提供快速电路板样品/批量加工制作。
下一篇：没有了
