晶圆测试探针卡电路板
- 探针卡电路板搭配测试机(ATE)与Prober对晶片上的每个晶粒进行针测,领智电路可以制作生产探针卡测试电路板 、半导体测试负载电路板、半导体老化测试电路板,提供快速样品/批量加工。...
- 咨询热线:0755-26395768
-
产品详情
产品名称:晶圆测试探针卡电路板
板材型号:TU-872
产品层数:24L电路板
成品板厚:5mm
成品铜厚:1oz
表面处理:镀金
最小孔径:0.1mm
最小线距:0.25mm
最小线宽:0.075mm
特殊工艺:阻抗,高多层,HDI
应用领域:晶圆测试
![](http://qiaomeicn.com/uploads/allimg/240705/1-240F5164530b9.jpg)
晶圆测试(Chip Probing)是半导体生产过程中必不可少的关键关节,探针卡(Probe Card)将数以万计的微米级探针集成到一块PCB板上,搭配测试机(ATE)与Prober对晶片上的每个晶粒进行针测,探针卡电路板通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加到Loadboard上,从而判断芯片的良好程度。领智电路是一家提供高精密高TG电路板生产加工厂家,可以制作生产探针卡测试电路板 、半导体测试负载电路板、半导体老化测试电路板,提供快速电路板样品/批量加工制作。
下一篇:没有了